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上(shang)架時(shi)刻:2025-02-14 16:02:43 閱讀:569
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操作于(yu)此類檢查消費場(chang)景的(de)(de)BGA插排(pai),一(yi)定具備著位置的(de)(de)經久牢固(gu)性(xing)和牢固(gu)性(xing),互相(xiang)應免予清理施力(li)(li)的(de)(de)標準。越來越地,開放性(xing)式(shi)殼體的(de)(de)BGA插板(ban)進行(xing)了(le)凸(tu)輪軸(zhou)(zhou)軸(zhou)(zhou)軸(zhou)(zhou)控制(zhi)桿結(jie)構設計方案,該結(jie)構設計方案選(xuan)用有(you)壓縮彈(dan)簧數據加載的(de)(de)蓋子,該蓋子由凸(tu)輪軸(zhou)(zhou)軸(zhou)(zhou)軸(zhou)(zhou)杠桿比(bi)率比(bi)率控制(zhi)。這(zhe)暗示著,當蓋子合閉(bi)時,會施用一(yi)種良好且安(an)全的(de)(de)力(li)(li),如果因凸(tu)輪軸(zhou)(zhou)軸(zhou)(zhou)軸(zhou)(zhou)杠桿比(bi)率比(bi)率的(de)(de)選(xuan)擇(ze)功能性(xing),該力(li)(li)不會受溫暖的(de)(de)變化(hua)而受過影響力(li)(li)。這(zhe)對于(yu)哪幾個老化(hua)測試(shi)英(ying)(ying)文方法(fa)測試(shi)英(ying)(ying)文方法(fa)至(zhi)關比(bi)較重要,可以此時段.要測試(shi)英(ying)(ying)文方法(fa)百余萬個集(ji)成電路(lu)(lu)芯片(pian),是為了(le)能夠(gou)地挑選(xuan)出(chu)哪幾個可以發生(sheng)較早出(chu)現異常風險(xian)點(dian)的(de)(de)集(ji)成電路(lu)(lu)芯片(pian)。
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